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太阳能电池分析解决方案 |
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MA-tek MA-tek 内部服务 |
结构体
- 光学（表面形态）
- SEM-FIB（晶粒尺寸，晶粒取向，缺陷特征）
- XTEM（层厚度测量，缺陷表征，相识别）
化学制品
- SIMS（掺杂浓度，杂质污染）
- EDS（材料成分/组成）
FA
- EMMI（发射显微镜）
- SAT（扫描断层扫描）
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采购服务 |
可焊性和薄膜附着力
光学分析
- 反射率
- 椭偏仪（膜厚）
PV（光伏）分析
- IV测试仪（Isc，Voc，FF，Rs，Rsh）
- 光强度效应，温度效应
- 量子效率（外部，内部）
- 光谱响应
电极接触电阻
光诱导降解