We use cookies to improve your experience. By your continued use of this site you accept such use. To change your settings please see our Privacy Policy.
关闭

FIB线路修补

材料分析 (MA)

窗口

软件

二手机台

MA-tek FTP

永续报告书

太阳能电池分析实例

分析类别

适用项目
 

纹理化(表面形态)

光学轮廓仪,SEM,TEM

膜类型和厚度

SEM / EDS,TEM / EDS

细胞结构

SEM / EDS,TEM / EDS

結深

掃描電鏡,SIMS,SRP

基板缺陷(晶体缺陷)

TEM,SEM,EMMI

掺杂轮廓

SEM,SCM

边缘隔离

EMMI,EL

失效分析(FA)

EMMI,EL,SAT,FIB,TEM,SEM

 

 

 

太阳能电池结构的平面图

图-1

 

 

非接触式3D表面轮廓仪

應用領域

  • 平面度,表面粗糙度,台阶高度,变形和波纹度
  • 2-D和3-D轮廓

好处

  • 准确,快速且无需样品制备
  • 可以对非常广泛的表面高度进行轮廓分析。 (〜180微米)
  • 光学表面轮廓仪的优点包括
    • 出色的高度分辨率
    • 高测量速度
    • 能够执行精密表面的非接触式测量

 

图-2 表面缺陷表征

(a)OP;(b)SEM;(c)在FPC上形成金属指;(d)光掩模检查

 

 

表面纹理(形态) 

奈米视图(光学轮廓仪):表面粗糙度的定量表征

图-3

 

 

表面纹理化(形态,粗糙度)

图-4

 

 

细胞结构

图-5

 

 

正面表面纹理化

图-6

 

 

背面铝 BSF

图-7

 

 

SEM – BSF染色

图-8

 

 

SEM – 发射极结染色

图-9 

 

 

基板针孔

图-10 (a)FIB 图像;(b)SEM 图像

 

 

FIB 切割基板针孔

图-11

 

 

基板针孔 (X-TEM)

图-12

 

 

基板针孔

图-13 截面TEM

 

 

EMMI 缺陷定位

  • 泄漏(结/氧化物)
    • 氧化物泄漏(低温)
    • 补漏等
  • 热电子(散装)

图-14

 

 

多晶矽太阳能电池的EL图像

图-15

 

 

矽太阳能电池FA的EMMI分析

图-16

 

 

EMMI&TEM的矽太阳能电池FA

图-17

 

 

SIMS 应用

  • 超浅结分析
  • 非常薄的层(十埃)分析
  • 掺杂轮廓/深度轮廓
  • 背面铜扩散
  • 污染验证
  • 出色的检测限(ppm到ppb)
  • 可以检测所有元素和同位素,包括H
  • 极好的深度分辨率,可能达到1nm
  • 通过标准参考定量
  • 绝缘子可以测量

图-18 

(a)CAMECA ims-6f,高透射率和高质量分辨率

(b)ATOMIKA sims 4500,高深度分辨率,超浅结

 

图-19 (a)超浅结

图-19 (b)高深度分辨率

 

 

矽太阳能电池的SIMS分析

图-20