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MAFT H2

驾动未来-车用感测技术与无人驾驶的验证挑战

在迈向无人驾驶的路上，汽车早已不再只是交通工具，而是融合传感器、AI 芯片、复合材料与崭新制程技术的移动智慧终端。这场技术竞赛，不仅比拼创新，更是对「可靠性」的极限挑战。

随着自驾车与智能汽车快速成为新常态，感测技术、材料创新与模块验证正晋升为驱动车辆智能化的核心动能。面对技术演进日新月异，企业如何在稳健中突围、抢得市场先机？

9 月 24 日，闳康科技诚挚邀请您出席 2025 年 MAFT 研讨会！本届以「驾动未来」为主题，聚焦车用感测与模块验证，从失效分析、材料研发、车用模块验证到高阶分析，汇聚四大关键领域的第一线技术洞察与实战经验。

让我们携手业界先进，深入剖析从材料到模块、从检测到验证的关键技术路径，共探智能驾驶的下一个突破口。

报名网站：https://forms.office.com/r/MLPHUh5S4S

活动议程

时间	讲师	主题	大纲

13:00~13:20	报到
13:20~13:30	开场
13:30~14:30	故障分析事业群林于腾处长	Total-solution FA Procedure and Case study of Power & Compound semiconductor	FA Procedure Total-solution FA Procedure Level I: Non-destructive Analysis Level II: Electrical Failure analysis Level III: Physical Failure Analysis Case Sharing
14:30~15:30	清大半导体学院方维伦教授	压电薄膜于MEMS的应用	压电材料被视为一种智能材料，已广泛应用于超音波探头、精密定位、声纳、振动传感器、蜂鸣器等许多领域。近年来，随着多种制程技术的开发，压电薄膜已成为推动微机电系统（MEMS）致动器发展的关键技术之一。本演讲首先将简要介绍压电薄膜的基本原理与特性，并说明如何进行材料性质的表征与分析。接着，将透过几个具代表性的应用案例，展示压电薄膜在先进MEMS装置中的潜力与成就，包括用于自驾车的光达（LiDAR）、智慧汽车的抬头显示器（HUD）、以及微型扬声器等。最后，将对压电薄膜在MEMS应用中的未来发展方向与挑战提出展望，期望启发更多智能材料与智能装置的创新研究与应用。
15:30~16:00	交流＆中场休息
16:00~17:00	可靠度分析事业群张筌钧副处长	自驾车时代的关键—车用模块验证解析与桃战	随着自驾车技术的快速演进，车辆不再只是交通工具，更是成为高度智能化的移动平台。从传感器到控制单元、从通讯模块到人工智能（AI）芯片，每一个车用模块都扮演着不可或缺的角色。而在这场技术革命中，「模块验证」成为确保安全、稳定与可靠性的关键环节。现阶段车用模块验证在AEC-Q验证家族中分成多芯片模块Multichip Module(MCM)与光学多芯片模块Optoelectronic Multichip Module (OE-MCM)两大类，分别参考AEC-Q104与AEC-Q102-003等规范。验证架构则分成一般共通性验证与特殊验证两个部分。由于车用模块型态种类繁多，常遇到有些测试项目的适用性。因此极需要像闳康科技以专业验证经验，量身订做符合规范的验证方案，让车用模块快速且安心地跨入智能驾驶新时代！
17:00~18:00	材料分析事业群褚耕颉经理	高阶材料分析于车用电子的分析应用	主题为「高阶材料分析于车用电子的分析应用」，内容涵盖车用半导体市场的发展趋势，以及穿透式电子显微镜（TEM）在先进制程与功率组件中的关键角色。简报说明TEM技术的基本原理、三维观察方式（平面与横截面）、ALD镀层技术、球面像差校正、影像自动量测、EBSD与TKD晶粒分析等应用，并针对IGBT与SiC功率器件提供具体分析案例。Ma-tek亦展示其整合高解析仪器、AI自动量测与专业分析能力，强调可提供客制化、精确且高效率的分析解决方案，协助提升车用电子组件的质量与可靠度。
17:50~18:00	活动抽奖＆赋归