全新 nProber IV 系統即將在閎康實驗室為您服務囉! |
閎康科技最新引進了 nProber IV 系統,這是一種基於掃描電子顯微鏡 (SEM) 的先進製程 IV 特性量測與缺陷定位奈米探針系統,專門用於提高故障分析的工作效率,100eV 的操作電壓可以有效降低電荷累積,提高量測的精準度。
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了解更多技術內容:〔 Nano Probing 〕
服務項目
We provide wide span of materials, structure analysis, surface analysis, failure analysis, and reliability test.
服務項目
可靠度測試服務 (RA)
非破壞性分析
電性故障分析 (EFA)
FIB線路修補
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物理化學特性分析 (CA)
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