時域反射儀 (TDR)
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技術原理 |
當一個電訊號在某一傳輸路徑傳送時，若傳輸路徑中發生阻抗變化，則一部分訊號會被反射，而另一部分訊號會繼續沿傳輸路徑傳輸。時域反射術 (Time Domain Reflectometry, TDR) 就是利用這樣的特性，藉由送出一個階梯電壓變化之訊號並測量反射訊號的電壓幅度，從而計算出阻抗的變化。此外，藉由量測訊號反射點到發射點的時間差，就可計算出傳輸路徑中阻抗變化點的位置。
現今 TDR 已經成為一種重要的分析技術應用於 IC 封裝的故障定位，此種技術可以搭配其它的分析技術，如超音波掃瞄顯微術 (Scanning Acoustic Tomography, SAT) 及 X 光顯微術 (X-ray microscopy)，進行更精確的故障定位分析。
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