4月15日，由閎康科技主辦的「閎康芯動力，智駕新未來」技術研討會在上海浦東維景國際酒店成功舉辦！本次會議聚焦智慧駕駛與半導體檢測技術，行業專家、企業代表及技術精英齊聚一堂，共同探討AI晶片、車用半導體、失效分析、表面分析等熱點議題，為智慧駕駛的未來發展注入新動能。
首先我們非常榮幸地邀請到上海積體電路行業協會劉林發部長致辭，劉部長的發言點明行業發展的大趨勢與方向，也為研討會拉開了序幕。緊接著，閎康科技董事長謝詠芬博士上臺，分享閎康科技深耕半導體檢測與分析領域的戰略佈局。
本次研討會內容豐富，乾貨滿滿。議題涵蓋：
- 圍繞AI領先失效分析
- 車用功率半導體可靠度應力驗證
- ASIC Design & Foundry Service Total Solution
- 半導體智慧財產權保護的技術和方法
- 高階材料分析于車用電子的分析應用
- 表面分析于智慧駕駛汽車器件的分析應用
多位閎康科技的講師結合實際案例與前沿技術，深入淺出地分享，為參會者帶來一場知識盛宴，同時與嘉賓們展開深入交流，碰撞思維火花。
本次研討會的成功舉辦，不僅加深了閎康科技與行業同仁的交流合作，更為智慧駕駛與半導體檢測行業的協同發展注入新活力。未來，閎康科技將繼續秉持專業、創新、開放、共用的理念，持續以技術驅動行業進步，期待與您下次再會！
精彩花絮：
活動時間
2025/04/15 (二) 13:00~17:30
活動地點
上海市浦東新區祖沖之路2299號（上海浦東維景國際酒店）
活動費用
Free
