2017年3月，AEC針對光電子離散半導體元件制定了新的測試驗證標準AEC-Q102，包括發光二極體、雷射元件、光電二極體等屬之。這個標準的制定可以有效改變過去此類元件參考AEC-Q101離散半導體總和測試標準，使其有所區分，也可減少測試項目選擇上的解讀困擾。
與其他AEC規範定義相同，AEC-Q102的測試驗證規格仍以JEDEC與MIL-STD的標準為主，並且強調家族（Family, Generic Data）的概念。在工程變更（Process Change）上, 由於光電子元件的特性與製程差異性，明確區分不同的類別的變更驗證項目，更為細緻。
此外在AEC-Q102中，針對表面黏著元件（SMD）採用焊點溫度量測（T solder）取代傳統的殼溫量測（T case），使相關溫度的數值更正確，量測的位置如下圖：
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在測試數量上，AEC-Q102的測試樣品數雖然維持三個批數，但測試數量較AEC-Q101減少；驗證項目上,，本規範在各項測試項目明定實驗對象，舉例要選擇PTC （Power Temperature Cycling）或是IOL（Intermittent Operational Life）。過去在AEC-Q101的說明中並無法清楚區分與選擇，但在AEC-Q102中則清楚定義LED適用PTC進行測試。
光電子離散半導體元件由於AEC-Q102的規範制定，將有一套更為完整有效的測試標準作為依循，閎康科技可靠度實驗室具有多年相關產業經驗，除可提供客戶完整的量測系統與驗證服務外，並提供完整的技術諮詢。
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