TDR
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時間領域反射率測定（TDR）は複雑なICパッケージの故障箇所を絞り込むために欠かせないツールです。 走査型音響トモグラフィー（SAT）やX線顕微鏡による詳細な解析のためには時間領域反射率測定（TDR）が必要です。 |
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今日では、TDRはICチップの故障解析（FA）にとって重要な技術です。 この解析は、走査型音響トモグラフィー（SAT）やX線顕微鏡法などの他の技術と組み合わせて、より詳細な非破壊検査を実現することができます。
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