TEM
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方式 |
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透過電子顕微鏡(TEM：Transmission Electron Microscope) は原子レベルの解像度を持ち、物質解析には非常に強力なシステムであり、簡単に"ナノの世界"に到達することができます。 |
物質の形態観察に広く使用されるとともに、結晶構造解析、元素分析も可能で、応用分野は半導体からセラミックス、合金、高分子、生物医療材料と多岐にわたります。
MA-tekは無料試料配送を含め、365日、24時間、試料到着後2日以内にデータ報告が可能なプロレベルサービスを提供しており、お客様の要求に最高品質、短納期、適正価格で応え、研究開発を支援いたします。
TEM Talos |
TEM Talos |
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保有装置 |
- フィリップスTecnai F-20(電界放射電子銃)TEM3台
- HAADF STEM検出器
- 電子エネルギー損失分光(EELS)
- Gatan925二軸傾斜試料ホルダー
- EDX 点分析、線分析、面分析
- STEM像
- イオンミリング(PIPS)
- 保護膜成膜装置(C、Al、Pt、SiO2、・・・)
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